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X線回折・散乱技術　上

物理工学実験
X線回折・散乱技術　上

A5判 256ページ
価格：3,520円 (消費税：320円)
ISBN978-4-13-063035-1(4-13-063035-0) C335
奥付の初版発行年月：1992年06月

内容紹介

Ｘ線回折・散乱技術は物質の原子レベルの構造を探るのに最も一般的かつ有効な手段である．本書ではその多様な技法に対応し，データを正しく解析するために理解しておくべき基本的事項や解析理論を詳細に解説している．



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